2010, ISBN: 6131509239

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[EAN: 9786131509230], Neubuch, [PU: Éditions Universitaires Européennes], nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - La diffraction cohérente des rayons X est une technique relativement récente, qui permet de réaliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matière dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace réel à l'aide d'algorithmes basés sur des calculs de transformée de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut être appliquée à l'étude de défauts de phase isolés tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent être reconstruits sans algorithme. Il apparaît que la technique peut en principe surpasser en résolution la topograhie X, technique de choix pour les études de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi été imagées. Nous montrons également que de réelles conclusions physiques peuvent être tirées, à travers l'étude de défauts de phase de structures électroniques dans des systèmes développant des ondes de densité de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdène K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systèmes étudiés dans ce travail. Un certain nombre de questions liées à la structure statique et dynamique de ces cristaux électroniques sont soulevées, et des modèles théoriques sont proposés. 272 pp. Französisch, Books<

ISBN: 9786131509230

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[EAN: 9786131509230], Neubuch, [PU: Éditions Universitaires Européennes Jul 2010], This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -La diffraction cohérente des rayons… Altro …

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