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Atomic and Nuclear Analytical Methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 3642067735

[EAN: 9783642067730], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], ACCELERATORS; ATOMICANDNUCLEARPHYSICS; MASSSPECTROMETRY; MATERIALANALYSIS; MÖSSBAUERSPECTROSCOPY; RADIATIONPHYS… Altro …

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ISBN: 9783642067730

This book is a blend of analytical methods based on the phenomenon of atomic and nuclear physics. It comprises comprehensive presentations about X-ray Fluorescence (XRF), Mössbauer Spect… Altro …

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2010, ISBN: 9783642067730

Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 392 Seiten, Publiziert: 2010-02-12T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 128 black & white illustrat… Altro …

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Springer, Paperback, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 390 Seiten, Publiziert: 2010-02-12T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, Hersteller-Nr.: 128 black & white illustratio… Altro …

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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente

Dettagli del libro
Atomic and Nuclear Analytical Methods: XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Autore:
Titolo:
ISBN:

3642067735


This book compares and offers a comprehensive overview of nine analytical techniques important in material science and many other branches of science. All these methods are already well adapted to applications in diverse fields such as medical, environmental studies, archaeology, and materials science. This clearly presented reference describes and compares the principles of the methods and the various source and detector types.

Informazioni dettagliate del libro - Atomic and Nuclear Analytical Methods: XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques


EAN (ISBN-13): 9783642067730
ISBN (ISBN-10): 3642067735
Copertina rigida
Copertina flessibile
Anno di pubblicazione: 2010
Editore: Springer
392 Pagine
Peso: 0,591 kg
Lingua: eng/Englisch

Libro nella banca dati dal 2011-09-12T17:04:00+02:00 (Zurich)
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ISBN/EAN: 3642067735

ISBN - Stili di scrittura alternativi:
3-642-06773-5, 978-3-642-06773-0
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : hem, verma
Titolo del libro: spectroscopic methods, ion, xps

Dati dell'editore

Autore: Hem Raj Verma
Titolo: Atomic and Nuclear Analytical Methods - XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Editore: Springer; Springer Berlin
376 Pagine
Anno di pubblicazione: 2010-02-12
Berlin; Heidelberg; DE
Stampato / Fatto in
Peso: 0,599 kg
Lingua: Inglese
307,99 € (DE)

BC; Measurement Science and Instrumentation; Hardcover, Softcover / Technik/Allgemeines, Lexika; Wissenschaftliche Standards, Normung usw. Verstehen; Accelerators; Atomic and nuclear physics; Mass Spectrometry; Material analysis; Mössbauer spectroscopy; Radiation physics; X-ray spectroscopy; scattering; spectroscopy; Analytical Chemistry; Characterization and Evaluation of Materials; Atomic, Molecular, Optical and Plasma Physics; Condensed Matter Physics; Measurement Science and Instrumentation; Analytical Chemistry; Characterization and Analytical Technique; Atomic, Molecular and Chemical Physics; Condensed Matter Physics; Analytische Chemie; Werkstoffprüfung; Atom- und Molekularphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); BB

X-ray Fluorescence (XRF) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE).- Rutherford Backscattering Spectroscopy.- Elastic Recoil Detection.- Mössbauer Spectroscopy (MS).- X-Ray Photoelectron Spectroscopy.- Neutron Activation Analysis.- Nuclear Reaction Analysis and Particle-Induced Gamma-Ray Emission.- Accelerator Mass Spectrometry (AMS).

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