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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nuovo libro

2001, ISBN: 9781441909275

[ED: Buch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor indus… Altro …

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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices / Patrick Girard (u. a.) / Buch / Englisch / 2009 - Girard, Patrick
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices / Patrick Girard (u. a.) / Buch / Englisch / 2009 - copertina rigida, flessible

2009, ISBN: 9781441909275

[ED: Gebunden], [PU: Springer US], Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate … Altro …

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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard#Nicola Nicolici#Xiaoqing Wen
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Patrick Girard#Nicola Nicolici#Xiaoqing Wen:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - copertina rigida, flessible

2009

ISBN: 9781441909275

Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such a… Altro …

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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nuovo libro

2001, ISBN: 9781441909275

[ED: Buch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor indus… Altro …

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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Girard, Patrick, Nicola Nicolici und Xiaoqing Wen
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Girard, Patrick, Nicola Nicolici und Xiaoqing Wen:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Prima edizione

2009, ISBN: 9781441909275

[PU: Springer US], Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt, Buchrücken leicht geknickt, 1. Auflage 2010 5664520/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2010, Banküb… Altro …

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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente

Dettagli del libro
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Autore:
Titolo:
ISBN:

9781441909275


Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.

Informazioni dettagliate del libro - Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices


EAN (ISBN-13): 9781441909275
ISBN (ISBN-10): 1441909273
Copertina rigida
Anno di pubblicazione: 2009
Editore: Springer-Verlag New York Inc.
363 Pagine
Peso: 0,717 kg
Lingua: eng/Englisch

Libro nella banca dati dal 2009-11-13T20:04:16+01:00 (Zurich)
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ISBN/EAN: 9781441909275

ISBN - Stili di scrittura alternativi:
1-4419-0927-3, 978-1-4419-0927-5
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : girard patrick, xiaoqi
Titolo del libro: test, the power now

Dati dell'editore

Autore: Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
Titolo: Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Editore: Springer; Springer US
363 Pagine
Anno di pubblicazione: 2009-11-23
New York; NY; US
Stampato / Fatto in
Lingua: Inglese
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
POD
XXI, 363 p.

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Electronic Testing; Low Power Design; Low Power Testing; Nanoscale Testing; Nicolici; Power Aware Testing; Semiconductor Testing; VLSI; Wen; power management; semiconductor; testing; Electronic Circuits and Systems; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Computer-Aided Design (CAD); EA; BC

Fundamentals of VLSI Testing.- Power Issues During Test.- Low-Power Test Pattern Generation.- Power-Aware Design-for-Test.- Power-Aware Test Data Compression and BIST.- Power-Aware System-Level Test Planning.- Low-Power Design Techniques and Test Implications.- Test Strategies for Multivoltage Designs.- Test Strategies for Gated Clock Designs.- Test of Power Management Structures.- EDA Solution for Power-Aware Design-for-Test.
Is the only comprehensive book on power-aware test for (low power) circuits and systems Instructs readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliability Includes necessary background information on design for test and low-power design Incorporates detailed coverage of all levels of abstraction for power-aware testing of (low-power) circuits and systems Presents state-of-the-art industrial practices and EDA solutions Includes supplementary material: sn.pub/extras
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