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Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:

Noncontact Atomic Force Microscopy - nuovo libro

2009, ISBN: 9783319155883

This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic re… Altro …

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Noncontact Atomic Force Microscopy - nuovo libro

2015

ISBN: 9783319155883

Volume 3, eBooks, eBook Download (PDF), 2015, [PU: Springer International Publishing], Seiten: 527, Springer International Publishing, 2015

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Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:
Noncontact Atomic Force Microscopy - Prima edizione

2015, ISBN: 9783319155883

Volume 3, [ED: 1], Auflage, eBook Download (PDF), eBooks, [PU: Springer-Verlag]

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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente

Dettagli del libro
Noncontact Atomic Force Microscopy
Autore:
Titolo:
ISBN:

9783319155883

Informazioni dettagliate del libro - Noncontact Atomic Force Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783319155883
ISBN (ISBN-10): 3319155881
Anno di pubblicazione: 2009
Editore: Springer International Publishing

Libro nella banca dati dal 2015-08-07T14:52:55+02:00 (Zurich)
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ISBN/EAN: 9783319155883

ISBN - Stili di scrittura alternativi:
3-319-15588-1, 978-3-319-15588-3
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : ernst meyer, gies, ernst wies, wiese, roland wiesendanger, meyer franz

Dati dell'editore

Autore: Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger
Titolo: NanoScience and Technology; Noncontact Atomic Force Microscopy - Volume 3
Editore: Springer; Springer International Publishing
527 Pagine
Anno di pubblicazione: 2015-05-18
Cham; CH
Lingua: Inglese
213,99 € (DE)
220,00 € (AT)
236,00 CHF (CH)
Available
XXII, 527 p. 256 illus., 159 illus. in color.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Verstehen; Atom Manipulation; Atomic Force Microscopy; Atomic Resolution; Atomic/Molecular Manipulation; Chemical Structure; Force Mapping with Atomic Resolution; Liquid AFM; Magnetic Exchange Force Microscopy; Scanning Probe Techniques; Scanning Tunneling Microscopy; B; Nanophysics; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Spectroscopy; Nanotechnology; Chemistry and Materials Science; Nanowissenschaften; Materialwissenschaft; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Nanotechnologie; BB

From the Contents: Introduction.- 3D Force-Field Spectroscopy.- Simultaneous NC-AFM/STM Measurements of Atomic-Sized Contacts.- Spectroscopy and Manipulation Using AFM/STM at Room Temperature.- The Phantom Force - The Influence of a Tunnel Current on Force Microscopy.- Non-Contact Friction.- Magnetic Exchange Force Spectroscopy.
Represents a most advanced state-of-the-art report on atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy Deals with the various classes of materials studied at the atomic scale A valuable reference for researchers as well as a text for graduate students Written by leading researchers in the field Includes supplementary material: sn.pub/extras
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