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Scanning Electron Microscopy / Physics of Image Formation and Microanalysis / Ludwig Reimer / Taschenbuch / Springer Series in Optical Sciences / Paperback / xiv / Englisch / 2010 / Springer Berlin - Reimer, Ludwig
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Scanning Electron Microscopy / Physics of Image Formation and Microanalysis / Ludwig Reimer / Taschenbuch / Springer Series in Optical Sciences / Paperback / xiv / Englisch / 2010 / Springer Berlin - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 9783642083723

[ED: Taschenbuch], [PU: Springer Berlin], Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The differe… Altro …

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Scanning Electron Microscopy Physics of Image Formation and Microanalysis - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 3642083722

Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998 Kartoniert / Broschiert Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie, Rasterelektronenmikroskopie; scanningtunnelingcrystal; diffract… Altro …

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Scanning Electron Microscopy - edizione con copertina flessibile

ISBN: 9783642083723

Scanning Electron Microscopy ab 192.49 € als Taschenbuch: Physics of Image Formation and Microanalysis. Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998. Aus dem Bereich: Bücher, Wissenscha… Altro …

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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences) [Soft Cover ] - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 3642083722

[EAN: 9783642083723], Neubuch, [PU: Springer], Books

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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 3642083722

[EAN: 9783642083723], Gebraucht, wie neu, [PU: Springer], Unread book in perfect condition., Books

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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente

Dettagli del libro
Scanning Electron Microscopy
Autore:
Titolo:
ISBN:

9783642083723


Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Informazioni dettagliate del libro - Scanning Electron Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783642083723
ISBN (ISBN-10): 3642083722
Copertina rigida
Copertina flessibile
Anno di pubblicazione: 2010
Editore: Springer Berlin Heidelberg

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ISBN/EAN: 9783642083723

ISBN - Stili di scrittura alternativi:
3-642-08372-2, 978-3-642-08372-3
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : ludwig reimer, hawkes, ludwig reimers
Titolo del libro: optical microscopy, science microscopy, scanning electron microscopy physics image formation and microanalysis, ludwig, englisch berlin

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